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Jeudi 20 novembre 2025
10h00 - 16h00
Restitution du projet ANR-SCaNING : au travers de systèmes de monitoring par capteurs noyés électromagnétiques et ultrasonores
Décarboner
Journée capteurs noyés pour le monitoring de la durabilité des structures en béton armé.
Venez découvrir la restitution du projet ANR-SCaNING durant cet événement organisé par l’Université Gustave Eiffel Campus de Nantes, le jeudi 20 novembre de 10h00 à 16h00.
Cette journée sur l’END et le monitoring de la durabilité des structures en béton armé viendra présenter les nouveaux capteurs, les chaines de mesures et de monitoring ainsi que l’ensemble des résultats du projet, à la communauté scientifique, aux utilisateurs finaux maîtres d’ouvrage, collectivités territoriales et entreprises.
Au programme
- Accueil
- Objectifs du projet
- Capteurs noyés
- Système de monitoring
- Pause et exposition
- Campagne de mesures sur élément en béton armé
- Incertitudes et correction des biais de températures
- Repas
- Combinaison de données
- Synthèse du projet
- Table ronde : SHM et durabilité des ouvrages en béton armé
- Pause et échanges directs
Adresse
Allée des Ponts et Chaussées
Bouguenais
Contact :
Géraldine Villain
geraldine.villain@univ-eiffel.fr
Inscription
Le nombre de participants est limité à 100.
La participation financière pour le repas de midi et les pauses, au restaurant
du campus, est de 25€.
Aucune inscription ne sera prise par un autre moyen et il ne sera pas possible de s'inscrire sur place.
La participation financière pour le repas de midi et les pauses, au restaurant
du campus, est de 25€.
Aucune inscription ne sera prise par un autre moyen et il ne sera pas possible de s'inscrire sur place.
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